CMOS图像传感器在光栅传感器中的应用探讨
石磊1
吴武臣2
1.北京工业大学,集成电路与系统集成实验室,北京,100022;安阳工学院,电子信息与电气工程系,河南,安阳,4550002.北京工业大学,集成电路与系统集成实验室,北京,100022
摘要：目前在科技研究,工业生产等各行业中,对于位移角度的高精度测量都是不可或缺的.利用光栅传感器完成测量是目前的主要方法.光栅传感器利用光电转换的原理将位移、角度等几何量转换为电信号,该信号经过整形、细分后输出给后级电路完成对信号的处理,最后得到位移、角度的大小方向.本文在分析光栅传感器工作原理的基础上,提出借助CMOS图像传感器代替传统的硅光电池检测莫尔条纹,完成信号的细分,实现对位移角度的高精度测量.
关键词：CMOS图像传感器光栅传感器细分测量
分类号：V21(基础理论及试验)
论文发表日期：2007-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 28-31 )
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