导线线圈的射线层析检测
杨宝刚1
李建伟2
任华友1
金虎1
1.航天材料及工艺研究所,北京,1000762.中国航空综合技术研究所,北京,100028
摘要：本文选用不同的方法对两个导线线圈进行了射线检测,主要采用透射式工业CT检测和康普顿背散射成像检测两种射线层析检测方法,有效检测了导线线圈内部的缺陷情况,并指出射线层析检测作为一项新技术和新手段,可充分应用在航天产品的无损检测中.
关键词：导线线圈射线层析检测透射式工业CT检测康普顿背散射成像
分类号：TP391(计算技术、计算机技术)
论文发表日期：2005-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 33-36 )
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