工业CT图像的伪影成因和校正方法综述
谷建伟
张丽
陈志强
邢宇翔
高河伟
1.清华大学工程物理系,100084,北京2.清华大学工程物理系,100084,北京3.清华大学工程物理系,100084,北京4.清华大学工程物理系,100084,北京5.清华大学工程物理系,100084,北京
摘要：X射线CT在工业无损检测、医学、安检等领域发挥着重要的作用.但在实际检测中,CT系统重建的图像存在各种伪影.本文从CT的系统整体设计、X射线管和探测器等角度综述了影响伪影形成的各种因素,并对每种伪影的成因作了归纳;针对这些伪影,跟踪近些年文献中主要的校正方法作了介绍,并对这些校正方法作了比较、讨论和小结.
关键词：工业CT无损检测图像伪影校正
分类号：TP391.41(计算技术、计算机技术)
论文发表日期：2005-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 24-28 )
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