X射线衍射增强成像的折射角信息提取算法综述
丁飞
陈志强
黄志峰
张丽
1.清华大学工程物理系,北京,100084;清华大学粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,1000842.清华大学工程物理系,北京,100084;清华大学粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,1000843.清华大学工程物理系,北京,100084;清华大学粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,1000844.清华大学工程物理系,北京,100084;清华大学粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,100084
摘要：本文简要地介绍了衍射增强成像方法的物理原理,根据折射角信息提取所需要的DEI图像采样的数量进行分类,分别详细介绍了利用两幅DEI图像、三幅DEI图像以及多幅DEI图像进行折射角信息提取的算法,并依次分析了它们的特点及性能.对于不同的实际应用需要,灵活的选择使用这些折射角信息提取方法,可以获得更好的图像效果.
关键词：衍射增强成像折射角信息提取算法相衬成像
分类号：TP391.41(计算技术、计算机技术)
资助基金：国家自然科学基金(10575059)
论文发表日期：2008-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：9( 27-35 )
英文信息