基于MCNP对CT系统中探测器材料性能的研究
代志力1
陈浩2
黎明2
1.中国工程物理研究院研究生部,四川,绵阳,6210002.中国工程物理研究院应用电子学研究所,四川,绵阳,621000
摘要：探测器是辐射成像系统中的关键器件之一,探测器的性能优劣和成像系统的最终指标关系密切,因此在做成像系统设计时关于探测器的物理计算足非常关键的内容.本文利用MCNP模拟了3种闪烁体材料的性能指标(粒子探测效率,能量沉积率,有效沉积因子)是设计高能辐射成像系统的基础工作之一,具有借鉴意义.
关键词：CT系统探测器MCNP
分类号：TL816(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)
论文发表日期：2011-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
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