X-CT金属伪影校正方法综述
李庆亮
闫镔
孙红胜
李磊
张峰
1.信息工程大学电子科学与技术系,郑州,4500022.信息工程大学电子科学与技术系,郑州,4500023.信息工程大学电子科学与技术系,郑州,4500024.信息工程大学电子科学与技术系,郑州,4500025.信息工程大学电子科学与技术系,郑州,450002
摘要：X-CT成像系统中,当被检测物体中含有金属等高密度物质时,对投影数据重建后,重建图像中将出现放射状伪影或带状伪影.这些伪影严重影响了图像的质量,给人们的判断带来极大困难.金属伪影的校正已成为CT技术中的研究难点和热点.本文阐述了金属伪影产生的原因,就近些年出现的金属伪影校正方法进行归纳总结,并对金属伪影校正方法研究的前景进行讨论.
关键词：计算机断层成像金属伪影插值法达代法
分类号：TP301.6(计算技术、计算机技术)
资助基金：国家高技术研究发展计划"863计划"(2009AA012201)河南省基础与前沿技术研究计划项目(072300450240)
论文发表日期：2011-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
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