多能谱X射线成像技术及其在CT中的应用
郝佳
张丽
陈志强
邢宇翔
康克军
1.清华大学,工程物理系,北京,100084;清华大学,粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,1000842.清华大学,工程物理系,北京,100084;清华大学,粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,1000843.清华大学,工程物理系,北京,100084;清华大学,粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,1000844.清华大学,工程物理系,北京,100084;清华大学,粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,1000845.清华大学,工程物理系,北京,100084;清华大学,粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,100084
摘要：随着探测器技术的不断发展,具有能谱分辨能力的光子计数探测器成为人们研究的焦点,并在X射线成像领域开始得到应用.使用该种探测器,可以将具有较宽能谱分布的X射线分为不同的能区分别进行计数,获得详细的能谱信息及不同能量射线的衰减信息,由此引出了"多能谱成像"的概念.本义介绍了近些年来光子计数探测器技术的发展及其在X射线成像中的应用,同时分析了多能谱技术应用于CT成像所带来的一些优势,如降低辐射剂量、提高信噪比、提高物质识别精度、提高造影剂成像效果等.目前,许多研究机构都致力于研究更快速的电子学设备,以适应高计数率下快速成像的需求,随着多能谱成像技术研究的不断深入,必将为X射线成像及CT领域带来许多新的变革.
关键词：光子计数探测器X射线成像计算机断层扫描多能谱技术
分类号：TP391(计算技术、计算机技术)
论文发表日期：2011-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
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