双能CT成像基材料分解法的理论误差分析
郑鹏
郝佳
邢宇翔
1.清华大学工程物理系,北京,1000842.清华大学工程物理系,北京,1000843.清华大学工程物理系,北京,100084
摘要：双能X射线计算机断层成像技术(DECT)能够准确地重建物质的有效原子序数和电子密度信息,是一种有效的物质辨别技术.基材料分解法是求解DECT重建问题的主要方法之一.但目前应用此方法得到的重建结果误差较大,并且对于金属伪影抑制能力也较差.本文分析了DECT基材料分解法重建结果的误差来源和形成机制,阐释了其对金属伪影抑制作用差的原因,并推导出了该方法的理论误差计算公式,为分析方便,本文使用了两个单能进行研究.最后,对基材料分解法重建的适用条件提出了建议,一般情况下,该方法对低Z材料误差较小,对高Z材料误差较大.
关键词：DECT基材料分解法物质辨别理论误差金属伪影
分类号：TP301.6(计算技术、计算机技术)TP391.41(计算技术、计算机技术)
资助基金：国家自然科学基金(60772051)
论文发表日期：2011-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
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