影响X射线数字成像系统分辨率的因素分析
张俊生1
王明泉2
郭永亮2
陈志强2
1.中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原,030051;太原工业学院电子工程系,太原,0300512.中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原,030051
摘要：X射线数字成像系统广泛应用于工业无损探伤领域,其分辨率是整个系统最重要的技术指标,直接决定了系统的检测精度和适用范围.本文以构成成像系统的各个组成部分为出发点,详细剖析了每一个组成部分自身的分辨率以及构成整个系统的分辨率,并将它与系统放大率的关系绘制成函数曲线.最后,以电子工业中BGA器件焊点的X射线自动检测系统为例,来说明如何选用系统部件来构建高分辨率的X射线数字成像系统.
关键词：X射线数字成像分辨率检测
分类号：TP301.6(计算技术、计算机技术)
资助基金：高等学校博士学科点专项科研基金(20100501JJ)山西省青年科技研究基金(2009021019-2)
论文发表日期：2011-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
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