三种检材的直接免疫荧光检查诊断口腔天疱疮
朱越广1
赵华婷1
李伯友2
1.中山医科大学孙逸仙纪念医院 口腔科 ,2.中山医科大学孙逸仙纪念医院 皮肤科,
摘要：目的 对口腔损害的黏膜组织、损害缘的分离上皮组织(不含基底细胞层)、损害面的脱落细胞涂片作直接免疫荧光(DIF)检查，以评估这3种检材对诊断天疱疮的可靠性。方法 收集28例口腔天疱疮，每一患者同时作上述3种取材的DIF检查。结果 28例黏膜组织及分离上皮组织标本的DIF检查全部阳性(IgG)，而28例脱落细胞涂片标本只有24例阳性(IgG)。结论 黏膜组织与分离上皮组织作DIF检查以诊断天疱疮，两者的可靠性相同，但后者取材明显比前者容易；脱落细胞涂片作DIF检查的可靠性差，不宜作诊断天疱疮的DIF底物。
关键词：口腔黏膜分离上皮直接免疫荧光天疱疮
分类号：R78(口腔科学)
论文发表日期：2001-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：2( 399-400 )
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