夏橙果实离层中伤害诱导基因的克隆与表达分析
杨雪莲1
张凌云2
王志卫2
黄勇2
闫树堂3
钟广炎3
1.西南大学,重庆北碚,400715;贵州大学,贵阳,5500252.西南大学,重庆北碚,4007153.西南大学,重庆北碚,400715;中国农业科学院柑桔研究所,重庆北碚,400712
摘要：从乙烯处理的伏令夏橙果实离层中克隆出4个伤害诱导基因(CsWIP1、CsWIP2、CsWIP3、CsWIP4).通过RT-PCR、RACE等克隆技术分别获得了CsWIP1、CsWIP2、CsWIP3和CsWIP4的全长cDNA.测序结果表明CsWIP1、CsWIP2、CsWIP3和CsWIP4全长cDNA分别为588、549、412和629 bp,开放阅读框分别编码98、95、83和88个氨基酸,结构模拟显示这些蛋白在C-端和N-端各有一个α-螺旋,中间是一个富丝氨酸域.与其他植物伤害诱导蛋白序列比对结果显示,CsWIP家族蛋白分为2类,CsWIP1、CsWIP2和CsWIP3与玉米WTP家族中NP_001148450.1、NP_001151919.1、NP_001151459.1、NP_001147041.1和拟南芥NP_192765.1、NP_849355.1、NP_179023.1聚成一类;CsWIP4与葡萄的AY159560.1聚成一类.通过实时定量PCR检测这些基因在乙烯处理下果实离层中的表达情况,结果显示CsWIP1和CsWIP2受乙烯强烈诱导,CsWIP3和CsWIP4几乎不受乙烯调控.
关键词：夏橙伤害诱导蛋白基因家族克隆乙烯诱导
分类号：S666.4(果树园艺)
资助基金：重庆市科技攻关计划(CSTC;2007AA1018)
论文发表日期：2010-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
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