高通量检测技术在植入前胚胎遗传学诊断中的应用
徐晨明
浙江大学医学院附属妇产科医院, 杭州,310006
摘要：基因芯片和深度测序是两大最重要的高通量检测技术，给生物学和医学研究带来巨大的变化，在功能基因组、系统生物学、药物基因组的研究和遗传疾病诊断中得到了广泛的应用。随着全基因组扩增技术的不断改良，高通量技术在辅助生殖植入前遗传学诊断（PGD）中的应用有了巨大的进展。基于微阵列技术的胚胎全染色体组非整倍体筛查及结构异常的PGD已经开始临床应用，PGD /植入前遗传学筛查（PGS）后的临床妊娠率和胚胎植入率显著提高；基于单细胞高通量测序技术的染色体非整倍体及单基因病诊断的临床试验也已见报道，并有希望在不久的将来走向临床应用。
关键词：芯片分析技术微阵列分析生殖技术辅助高通量测序植入前遗传学诊断
资助基金：国家自然科学基金(81170620)浙江省科技计划(2010C33096)
论文发表日期：2013-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：6( 427-432 )
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