面向半导体制造业的统计过程分析与控制
聂斌
齐二石
1.天津大学,管理学院,天津,3000722.天津大学,管理学院,天津,300072
摘要：传统的统计过程控制方法不能完全适应半导体制造业生产形式需要.本文在分析半导体光电封装制造模式的特点和实施过程控制所面临的问题的基础上,提出一种基于聚类分析的统计质量控制方法.通过实证分析,证实了该方法的可操作性并取得了良好的实际效果.
关键词：统计过程控制聚类分析休哈特控制图方差分析半导体制造
分类号：C93(管理学)
论文发表日期：2004-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 58-61 )
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