与控制点方法论相结合的V-mask累积和控制图
何桢
商艳芬
1.天津大学,管理学院,天津,3000722.天津大学,管理学院,天津,300072
摘要：V-mask累积和控制图虽然能够有效地监控过程中发生的微小偏移,但是因为它需要存储大量统计量且计算时间较长,所以在计算机中实施起来比较困难.为了解决这一问题,介绍了将控制点方法论应用于V-mask累积和控制图这一方法,并通过实例来进一步说明.结果表明,与控制点方法论结合的控制图减少了存储量,缩短了计算时间,而且将在顾客满意度控制中得到广泛应用.
关键词：顾客满意度V-mask累积和控制图控制点方法论
分类号：F406.3(工业经济理论)
资助基金：国家自然科学基金(70372062)教育部新世纪优秀人才支持计划(NCET-04-0240)
论文发表日期：2007-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 48-52 )
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