基于DI反馈互锁的低开销抗四节点翻转锁存器研究
王俊
徐辉
安徽理工大学 计算机科学与工程学院,安徽 淮南 232001
摘要：随着CMOS集成电路工作频率和工艺的提升,深纳米级电路在高辐射空间环境中也越来越容易受到辐射粒子撞击引起的软错误影响.本文提出了一种低成本的quadruple-node-upsets(QNUs)容忍锁存器设计LCQNUTL,由三个独立的存储单元SC和拦截模块CG-SIM组成.SC内部两个二元反相器DI进行反馈互锁组成一个环路,通过Dual-inverter(DI)的特性达到实现SC单元可以单节点翻转的自恢复能力;再通过CG-SIM将存储单元SC中的部分错误节点进行过滤,所提出的LCQNUTL锁存器可以完全容忍QNU.仿真结果也验证了LCQNUTL锁存器的鲁棒性.与目前相同类型的QNU容忍锁存器设计相比,功耗平均降低 53.21%,延迟平均降低 53.83%,PDP平均降低77.27%.
关键词：辐射软错误锁存器设计四节点翻转
分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)
资助基金：国家自然科学基金(61404001)
论文发表日期：2024-04-28
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：10( 54-62,84 )
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