基于超高场强磁共振成像的轻型爆震性颅脑损伤机制研究进展
马珩钞1
李世俊2
张军3
1.100853 北京,解放军医学院研究生院2.解放军总医院第一医学中心放射诊断科3.解放军总医院第一医学中心神经外科
摘要：全球每年约有创伤性颅脑损伤(traumatic brain injury,TBI)患者(5 000～6 000)万例[1],而爆震性颅脑损伤(blast-induced TBI,bTBI)发生在军事、恐怖袭击和意外事故环境中,系爆炸形成的高能超压冲击波导致的脑组织损伤,其中又以轻型爆震性颅脑损伤(blast-induced mild traumatic brain injury,bmTBI)更为常见[2].
关键词：爆震性脑损伤磁共振成像神经血管单元微出血
分类号：R823(军事医学)
资助基金：国家重点研发计划(2022YFB4702805)
论文发表日期：2025-06-28
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 543-547 )