氟化锂探测器测量质子时厚度效应的分析
王根良
祁章年
陈湄
黄增信
李向高
1.航天医学工程研究所,北京,1000942.航天医学工程研究所,北京,1000943.航天医学工程研究所,北京,1000944.航天医学工程研究所,北京,1000945.航天医学工程研究所,北京,100094
摘要：目的分析氟化锂(LiF)探测器在测量质子时的厚度效应.方法在比较理想与合理的假设下,利用探测器吸收剂量的定义推导计算.结果质子能穿透探测器时,探测器厚度效应不明显:当质子能量大于12 MeV时,只是当探测器厚度接近于质子射程时其厚度效应才较为明显,小于12 MeV时,探测器没有厚度效应;质子不能穿透探测器时,探测器厚度效应较为显著.结论测量低能质子的剂量时,应选用较薄的LiF探测器,以避免其厚度效应的影响.
关键词：氟化锂探测器质子厚度效应热释光效率
分类号：TL816(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)
论文发表日期：2000-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：3( 42-44 )
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