一种时序电路的测试生成算法
佘强
陈护勋
1.武汉数字工程研究所,武汉,4300742.武汉数字工程研究所,武汉,430074
摘要：本文提出了一种高效的时序电路测试生成算法,该算法是建立在自适应算法的基础上,并使用了十七值逻辑模型.文章详细介绍了该测试算法的内容及其实现过程,并举例说明了该算法的测试效率.
关键词：时序电路测试生成迭代阵列模型测试效率
分类号：TP306+.3(计算技术、计算机技术)
论文发表日期：2001-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：8( 26-33 )
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