嵌入式计算机CMOS掉电、校验和出错解决方案

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DOI: 10.3969/j.issn.1672-9722.2003.03.016

嵌入式计算机CMOS掉电、校验和出错解决方案

廖容

武汉数字工程研究所,武汉,430074

摘要：本文对CMOS寄存器进行了比较深入的研究,解决了嵌入式计算机CMOS掉电、CMOS校验和出错的问题,具有较高的实用价值.

关键词：CMOS寄存器CMOS校验和CMOS掉电

分类号：TP38(计算技术、计算机技术)

论文发表日期：2003-01-01

在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）

页数：4( 64-66,50 )

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计算机与数字工程

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CSTPCD

ISSN：1672-9722

年,卷(期)：2003,31(3)