Lattice可编程器件测试程序开发技术
石坚
吴丹
韩红星
1.武汉数字工程研究所,武汉,4300742.武汉数字工程研究所,武汉,4300743.武汉数字工程研究所,武汉,430074
摘要：本文讨论可编程器件测试方法以及测试程序设计技术.介绍了功能测试模型、测试程序生成软件以及测试技术规范.
关键词：ISP可编程器件测试测试程序
分类号：TP392(计算技术、计算机技术)
论文发表日期：2004-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 38-41 )
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