可编程器件的测试技术研究
韩红星
谢长生
1.华中科技大学计算机学院,武汉,4300742.华中科技大学计算机学院,武汉,430074
摘要：本文主要介绍了如何在测试系统中实现对可编程器件的编程技术,如何利用测试仿真技术实现测试数据共享问题,以及对可编程逻辑器件中E2CMOS单元的测试.
关键词：可编程器件测试ISP
分类号：TP392(计算技术、计算机技术)
论文发表日期：2004-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：3( 50-52 )
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