边界扫描测试协议剖析--从1149.1到1149.6
陈新武1
余本海2
1.信阳师范学院物理电子工程学院,信阳,464000;华中科技大学图像识别与人工智能研究所IC设计中心,武汉,4300742.信阳师范学院物理电子工程学院,信阳,464000
摘要：本文对边界扫描协议IEEE Std 1149.1-1990到IEEE Std 1149.6-20 03的多个协议进行了介绍和剖析,着重讨论了各个协议能够解决的问题以及解决问题的方法 ,各个协议的体系结构和指令特色,总结了边界扫描技术的最新进展,并对以后边界扫描的发展方向给出了预测.
关键词：边界扫描IEEE Std 1149.1 IEEE Std 1149.4 IEEE Std 1149.5 IEEE Std 1149.6
分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)
资助基金：国家自然科学基金(90207020)
论文发表日期：2005-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 25-29 )
英文信息