10.6μm波段扫描负折射功率的实时探测系统
冯莉
梁斌明
陈家璧
庄松林
1.上海理工大学光学与电子信息工程学院,上海,2000932.上海理工大学光学与电子信息工程学院,上海,2000933.上海理工大学光学与电子信息工程学院,上海,2000934.上海理工大学光学与电子信息工程学院,上海,200093
摘要:10.6μm波段扫描负折射功率的实时探测系统在实验上为探测光子晶体光频波段负折射现象提供了实验平台.该系统采用VB编写控制程序,通过数据采集卡实现计算机对旋转台及平移台的控制,在以光子晶体样品为探测中心的轨道上,对折射光的整个空间功率分布进行实时采集、绘图.根据折射光最大光功率出现的位置,判断该光子晶体样品是否产生负折射现象.这一实验系统能够精确便捷地实现负折射现象在光频波段的探测.
关键词:数据采集实时绘图四维探测负折射功率
分类号:TP274(自动化技术及设备)
资助基金:国家自然科学基金(60478045)
论文发表日期:2008-01-01
在线出版日期:2025-08-15(本平台首次上网日期,不代表文献的发表时间)
页数:3( 47-49 )
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计算机与数字工程

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CSTPCD
ISSN:1672-9722
年,卷(期):2008,36(9)
所属栏目:系统结构