密封电子元器件微粒碰撞噪声自动检测系统的研究
王世成1
王国涛2
翟国富2
王传延3
1.哈尔滨工业大学军用电器研究所,哈尔滨,150001;陆军航空兵学院直升机机载设备系,北京,1011232.哈尔滨工业大学军用电器研究所,哈尔滨,1500013.集诚泰斯特测试技术有限公司,北京,100088
摘要：密封电子元器件内部存在多余物,多年来一直是困扰其应用与发展的关键因素.针对以往多余物微粒碰撞噪声检测(PIND)系统中存在检测精度低、误判和漏判率高等问题,文章提出一种基于小波分析的多余物自动检测方法,研制了具有自主知识产权的密封电子元器件微粒碰撞噪声检测系统.实验结果表明,检测系统运行稳定,性能优异,用户界面友好,各项技术指标均优于国际同类产品.文章提出的检测方法亦适用于其他航天产品的多余物检测.
关键词：密封电子元器件多余物微粒碰撞噪声检测
分类号：TM93(电气测量技术及仪器)
论文发表日期：2010-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 1-4,12 )
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