有效消减测试成本的并行技术分析
王敏1
张虹1
闫鹏2
1.中国航天科工集团第二研究院二〇一所,北京,1008542.北京大学微电子学研究院SOC测试中心,北京,100084
摘要：文章通过定量分析指出,并行测试不仅降低了ATE系统的设备投资,而且能够消减测试环节中各项成本因素,因而比之低成本ATE,是更为显著、有效的测试成本消减方法.文章还指出,并行测试最佳站点数相对独立于ATE设备成本、运行成本、产品的合格率以及其它多种限制因素,若设备中可用的独立资源有限,就会降低测试的并行度,从而导致部分测试顺序执行,并行测试的成本优势将迅速消失.
关键词：测试成本低成本ATE并行测试
分类号：TM93(电气测量技术及仪器)
论文发表日期：2010-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 13-15,27 )
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