数字集成电路测试系统测试结构及校准原理分析
贺志容
韩红星
刘文捷
1.武汉数字工程研究所,武汉,4300742.武汉数字工程研究所,武汉,4300743.武汉数字工程研究所,武汉,430074
摘要：文章介绍了数字集成电路测试系统的测试结构,分析了测试过程中各部分的工作原理,说明了测试的实现过程.在此基础上,提出了测试结构中各部分的校准原理与实现方法.
关键词：测试校准通道电平时序图形
分类号：TN492(微电子学、集成电路（IC）)
论文发表日期：2010-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 23-27 )
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