DSP功能测试方法研究
高剑
冯建科
郭士瑞
1.北京自动测试技术研究所,北京,1000882.北京自动测试技术研究所,北京,1000883.北京自动测试技术研究所,北京,100088
摘要：随着数字信号处理器(DSP)性能和集成度迅速地提高,DSP产品得到了日趋广泛的应用.文章首先介绍了DSP的基本结构,其次详细分析了DSP功能测试的方法,特别是研究了由测试系统模拟外部程序存储器加载程序的并行测试算法,最后讨论了为使用相同指令集的DSP自动生成测试图形的算法.上述算法具有直观、编程灵活、开发周期短的特点.
关键词：功能测试数字信号处理器并行测试图形
分类号：TP391(计算技术、计算机技术)
资助基金：北京市科学技术研究院创新团队计划支持项目(IG200806C1)
论文发表日期：2010-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 28-30,40 )
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