边界扫描技术在FPGA测试中的应用
陈庆孔
南京电子技术研究所,南京,210039
摘要：边界扫描技术是标准化的可测试性设计技术,它提供了对器件的功能、互连及相互间影响进行测,极大地方便了对于复杂电路的测试.文章针对XCV600_HQ240,介绍了边界扫描的基本结构、边界扫描测试操作流程、测试接口和IEEE 1149.1标准规定的数据寄存器和指令寄存器,结合FPGA芯片的BSDL文件进行边界扫描配置和测试.
关键词：边界扫描测试现场可编程逻辑阵列IEEE 1149.1
分类号：TM93(电气测量技术及仪器)
论文发表日期：2010-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 62-65,72 )
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