基于BIST的FPGA测试方法研究
高成
杨超
鹿靖
陈政平
1.北京航空航天大学可靠性与系统工程学院,北京,1001912.北京航空航天大学可靠性与系统工程学院,北京,1001913.北京航空航天大学可靠性与系统工程学院,北京,1001914.北京航空航天大学可靠性与系统工程学院,北京,100191
摘要：文章讨论了利用内建自测试结构对FPGA内部可编程逻辑资源进行测试的方法.以基于SRAM结构的FPGA为例,分析了一种查找表内建自测试方案在实际应用中存在的问题,并提出了一种改进测试方法,解决了综合过程中存在的不匹配问题.同时,还消除了由地址叠加造成的波形错位和周期错误,并在XC3S400芯片上完成了测试.
关键词：FPGABIST查找表
分类号：TP332(计算技术、计算机技术)
论文发表日期：2010-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 66-69 )
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