一种数字集成电路标准样片的设计实现磁
胡勇
刘倩
周厚平
1.武汉数字工程研究所 武汉 4302052.武汉数字工程研究所 武汉 4302053.武汉数字工程研究所 武汉 430205
摘要：标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径，论文着重于通过电路设计实现对数字集成电路参数的模拟，并对标准样片测量不确定度评估展开了相应的研究，用以提升标准样片参数的可编程性和量值的准确性，使之适合用于集成电路测试系统的检定、校准以及比对。最后给出了标准样片的不确定度评定和测量数据。
关键词：标准样片溯源性不确定度评定定值
分类号：TN405(微电子学、集成电路（IC）)
论文发表日期：2015-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 14-16,154 )
英文信息