对 BC3193测试系统测量不确定度的评定磁
张建宏
中国航天科工集团第四研究院元器件可靠性分中心 孝感 432000
摘要：论文通过对测量不确定度的介绍，并以光电耦合器测试系统 BC3193为例，分析总结了对测试系统进行不确定度评定的方法。文中提出的不确定评定方法在对其他测试系统的不确定度评定也具有很好的参考意义。
关键词：BC3193PT不确定度评定
分类号：TN492(微电子学、集成电路（IC）)
论文发表日期：2015-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 54-58 )
英文信息