FPGA 可编程逻辑单元测试方法研究磁
邱云峰1
秦鲁东2
1.贵州航天计量测试技术研究所 贵阳 5500092.贵州大学 贵阳 550025
摘要：FPGA 是广泛应用于集成电路设计，片上系统等多领域，随着 FPGA 的广泛应用，对其可靠性的要求也越来越高，由于其结构和功能复杂，其测试难度和成本也随之增加。文章简要介绍了 SRAM 型 FPGA 的逻辑单元（LE）的结构，提出了一种基于扫描链的逻辑资源遍历测试方法。以 Altera 公司 FPGA 为例，简述了在超大规模集成电路测试系统CAT T‐400上实现 FPGA 在线配置和功能测试方法。
关键词：FPGA可编程逻辑单元扫描链重配置自动化测试
分类号：TN406(微电子学、集成电路（IC）)
论文发表日期：2015-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 65-69 )
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