DDS 专用芯片静态参数测试方法研究磁
刘路扬
张虹
张碚
吕兵
1.航天科工二院二〇一所微电子器件可靠性研究室 北京 1008542.航天科工二院二〇一所微电子器件可靠性研究室 北京 1008543.航天科工二院二〇一所微电子器件可靠性研究室 北京 1008544.航天科工二院二〇一所微电子器件可靠性研究室 北京 100854
摘要：文章重点介绍了基于 ATE 设备的 DDS 专用芯片内嵌 DAC 静态参数的一种测试方法。由于 DDS 专用芯片的自身特点，其只能输出一定频率的正弦波，测试开发人员唯一能够控制的只有正弦波输出的频率和幅度。而正弦波电压是非线性的，所以利用线性斜波电压测试 DAC 的传统方法并不能用于 DDS 专用芯片的静态参数测试，只能依靠间接的方式测试其内嵌 DAC 的静态参数。该测试方法通过将正弦波的非线性幅值信息转换为线性的角度信息，实现了 DDS 专用芯片内嵌 DAC 的测试自动化，且测试过程高效可靠。
关键词：DDS 专用芯片数模转换器静态参数测试
分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)
论文发表日期：2015-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 70-74 )
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