基于 STM32F103VF 测试某型导弹发控设备的测试精度与参数设计
马秉亮
朱琳
徐金榜
沈安文
1.华中科技大学自动化学院 武汉 4300742.华中科技大学自动化学院 武汉 4300743.华中科技大学自动化学院 武汉 4300744.华中科技大学自动化学院 武汉 430074
摘要：为实现装备保障快速检测、修理与维护，基于对 STM32F103VF 系列微控制器的研究，开发新型采集测试系统。文章主要对测试通道设计和精度需求进行分析，并应用于测试某型便携导弹发控设备，满足对装备实测要求，降低了电源的要求，大大缩小测试电路的尺寸，对测试设备实现了极大的小型化和便携化[1]，同时满足战场快速技术保障的战斗力要求。
关键词：STM32F103VF微控制器通道发控设备
分类号：TP29(自动化技术及设备)
论文发表日期：2015-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 187-190,219 )
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