高精度微波夹具设计中的TRL校准技术∗
任翔
张一治
李硕
李静
1.航天科工防御技术研究试验中心 北京 1008542.航天科工防御技术研究试验中心 北京 1008543.航天科工防御技术研究试验中心 北京 1008544.航天科工防御技术研究试验中心 北京 100854
摘要：TRL校准是一种非常精确的校准方式,尤其适用于非标准接口的微波器件S参数的精确测试.论文探讨了有关TRL校准技术,从TRL校准技术理论模型分析,到设计TRL校准件的要求,到设计TRL校准件时需考虑的因素,对TRL校准技术做了较全面的介绍.
关键词：TRL校准微波测试网络分析仪S参数
分类号：TN368(半导体技术)
论文发表日期：2019-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 15-18 )
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