集成电路延迟时间测量结果的不确定度评定∗
李晓红
邓永芳
张丽巍
陈敏
李真
1.中国电子科技集团公司第二十四研究所 重庆 4000602.中国电子科技集团公司第二十四研究所 重庆 4000603.中国电子科技集团公司第二十四研究所 重庆 4000604.中国电子科技集团公司第二十四研究所 重庆 4000605.中国电子科技集团公司第二十四研究所 重庆 400060
摘要：采用GB/T17574-1998《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》[1]第Ⅳ篇测试方法第3节动态测试的测试方法分别对某运算放大器、开关驱动器和标准模块的延迟时间进行测试,并按JJF1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》[2]、CNAS-CL07:2011《测量不确定度的要求》[3]、CNAS-GL08:2006《电器领域不确定度的评估指南》[4]的要求,对测量结果进行不确定度评定[5].
关键词：集成电路延迟时间不确定度
分类号：TB973(计量学)
论文发表日期：2019-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 19-23 )
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