DDR器件关键测试向量的设计∗
石雪梅
刘敦伟
顾颖
李盛杰
1.航天科工防御技术研究试验中心 北京 1008542.航天科工防御技术研究试验中心 北京 1008543.航天科工防御技术研究试验中心 北京 1008544.航天科工防御技术研究试验中心 北京 100854
摘要：双倍数据速率(Double Data Rate,DDR)DRAM由于其速度快、容量大,而且价格便宜,在各种需求大量数据缓存的场合得到了广泛使用.论文介绍了DDR器件的基本工作原理及需重点关注的操作过程,通过建立合适的时序关系,基于ATE设计测试向量,实现DDR器件的功能测试.
关键词：DDR向量测试
分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)
论文发表日期：2019-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 29-32,78 )
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