非同轴微波器件测试夹具设计方法研究与探讨∗
程婷婷
张一治
任翔
李静
李硕
苗志坤
1.航天科工防御技术研究试验中心 北京 1008542.航天科工防御技术研究试验中心 北京 1008543.航天科工防御技术研究试验中心 北京 1008544.航天科工防御技术研究试验中心 北京 1008545.航天科工防御技术研究试验中心 北京 1008546.航天科工防御技术研究试验中心 北京 100854
摘要：论文根据非同轴微波器件的测试原理,提出非同轴微波器件的难点是测试夹具的设计,介绍了设计非同轴微波器件测试夹具的设计方法,包括结构设计方法和电路设计方法两个方面.文章还提出要实现非同轴微波器件的准确测试,需要对夹具实现校准,并且介绍了夹具校准的四种方法来实现对夹具的校准,包括端口延伸法、夹具上校准法、利用时间域和时间门功能的方法和去嵌入处理法.最后文章总结了非同轴微波器件夹具合理设计具有的意义.
关键词：非同轴微波器件测试夹具
分类号：TN63(电子元件、组件)
论文发表日期：2019-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 65-69 )
英文信息