纳米级线宽标准样片的设计与制备
韩志国
李锁印
冯亚南
赵琳
吴爱华
中国电子科技集团公司第十三研究所 石家庄 050051
摘要：介绍了纳米级线宽标准样片的用途及其在校准扫描电子显微镜中存在的问题,设计了具有快速循迹结构的线宽标准样片,采用电子束光刻工艺制作了标称宽度为25nm～200nm的线宽样片.以50nm和200nm线宽为例对样片的线宽偏差、线边缘粗糙度、线宽均匀性和稳定性进行了考核.结果表明,标称值50nm～200nm的样片线宽值与设计值基本一致,线边缘粗糙度为1.9nm～2.0nm、均匀性为1.7nm～1.9nm,稳定性为0.06nm～0.6nm.
关键词：线宽标准样片电子束线宽偏差线边缘粗糙度均匀性稳定性
分类号：TB921(计量学)
论文发表日期：2021-04-20
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 664-668 )
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