硅粉水泥石小角度X射线散射实验研究(Ⅱ) --微孔界面过渡层厚度
朱卫华1
蒋林华2
印友法3
车黎明4
1.河海大学数理系2.河海大学土木工程学院3.Dept. of Materials Science and Engineering Bath Univ. Bath BA4.水利部松辽水利委员会水利科学研究院
摘要：采用X射线小角散射(SAXS)技术,测定了硅粉水泥石中微孔孔界面电子密度过渡层厚度,并对过渡层厚度产生的原因进行了探讨.研究表明:硅粉水泥石中微孔界面不具有分明的边界,而具有约2×10-9m厚度的电子密度缓变的过渡层;当水灰比较大时,水灰比和硅粉含量对过渡层厚度有较大的影响;水泥石的抗压强度与过渡层厚度存在较显著的相关性.
关键词：小角度X射线散射水泥石硅粉界面
分类号：TQ172.1+2(硅酸盐工业)
论文发表日期：2001-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 228-231 )
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