基于机内测试(BIT)的LCC模型改进
董彦非
张恒喜
马新力
1.空军工程大学工程学院2.空军工程大学工程学院3.空军工程大学工程学院
摘要：在分析原寿命周期费用(LCC)模型的基础上,给出了一种将机内测试(BIT)结合到电子系统LCC中的方法;推导了改进的LCC费用模型.该模型反映了采用BIT带来的益处,减少了维修时间、外部测试设备、备件等的需求量、以及对人员技术水平和预防性维修的要求.在改进的LCC模型中考虑了如下设计因素:诊断差错、诊断不明、未检测故障、BIT硬件故障和虚警等.
关键词：寿命周期费用机内测试费用模型电子系统
分类号：TB114.3(工程基础科学)
资助基金：国防科技预研项目(98J19.3.2.JB3201)
论文发表日期：2001-07-02
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 25-28 )
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