基于高光谱成像技术和PCA检测苹果的轻微损伤
张政
门泽成
尤迪
1.中国矿业大学 北京 地球科学与测绘工程学院 北京 1000832.中国矿业大学 北京 地球科学与测绘工程学院 北京 1000833.中国矿业大学 北京 地球科学与测绘工程学院 北京 100083
摘要：为了检测在不同时间段下苹果的轻微损伤，选择红富士苹果作为研究对象。分别采集损伤1h内和满24h的32个苹果样本以及16个对照样本。通过对比损伤与正常区域的光谱反射率图像并利用主成分分析（Principle Component Analysis，PCA）方法，识别苹果损伤的最佳波长区域为680—980nm，最佳PCA波段为第四主成分波段，并运用PCA方法对损伤1h内和满24h的富士苹果分别进行检测。研究结果表明，16个对照苹果全正确检出，损伤1h内和满24h的富士苹果检测率分别为78.1%和87.5%，随着时间的推移，检测精度越来越高。该结论将为搭建高光谱检测平台提供一定的理论基础。
关键词：高光谱苹果轻微损伤PCA
分类号：O434.13(光学)
论文发表日期：2016-01-01
在线出版日期：2026-05-22（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：3( 5-7 )