分形分析1/f噪声性能
陈晓娟
唐龙泳
隋吉生
吴洁
1.东北电力大学信息工程学院,吉林吉林,1320122.东北电力大学信息工程学院,吉林吉林,1320123.东北电力大学信息工程学院,吉林吉林,1320124.东北电力大学信息工程学院,吉林吉林,132012
摘要：电子器件的低频噪声通常由闪烁(1/f噪声)噪声、g-r噪声和爆裂噪声3种成分构成.这些噪声通常与晶体管表面状态或内部缺陷有关,其中,1/f噪声已成为对器件的质量评估及可靠性预测的重要指标.提出分形分析方法,对1/f噪声性能进行分析.仿真实验结果验证了该方法的可行性,为今后用分形理论研究器件低频噪声提供了理论依据.
关键词：低频噪声1/f噪声分形分析
分类号：TN45(微电子学、集成电路（IC）)
资助基金：吉林省自然科学基金项目(20101519)
论文发表日期：2012-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 28-31 )