点光栅化及反走样算法的研究与实现
王媛媛1
韩俊刚2
蒋林3
张娜1
1.西安邮电大学 电子工程学院,陕西 西安,7100612.西安邮电大学 计算机学院,陕西 西安,7100613.西安邮电大学 研究生部,陕西 西安,710061
摘要：图形处理器流水线中经典的点生成算法和点反走样算法便于实现，但采样点测试的计算量大并且存在冗余测试，为此提出了多采样扫描转换算法。该算法将多采样集中在边界片元，同时，利用点区别于其他图元的对称特性，减少了采样点的冗余测试，提高了多采样时扫描转换的性能。试验结果表明：文中算法在较小代价下达到了同样的反走样性能。
关键词：点图元光栅化反走样图形处理器
分类号：TP302(计算技术、计算机技术)
资助基金：国家自然科学基金(61136002)
论文发表日期：2014-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：6( 43-48 )