X射线荧光光谱法测定锰硅合金中各组分含量
黄继发
徐鹏
刘巍
方大特钢科技股份有限公司,江西 南昌330012
摘要：利用X射线荧光光谱仪测定锰硅合金主要组分含量.通过熔片消除颗粒效应,将标准样品通过选择合理熔样方法,设定仪器各项分析条件,绘制工作曲线进行分析,完全能够满足检验要求.
关键词：X射线荧光光谱法锰硅合金化学成分
分类号：O657.34(分析化学)
论文发表日期：2020-10-20
在线出版日期：2026-05-22（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：2( 38-39 )
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