ICP-OES快速测定粗四氯化锗中的杂质元素
汪洋1
陈志华2
袁米雪2
俞义海1
1.南京金美镓业有限公司,江苏 南京2111112.朝阳金美镓业有限公司,辽宁 朝阳122304
摘要：在锗的生产过程中如能有效的对粗四氯化锗进行过程检验,并根据检验结果适当的精简或选择适宜的四氯化锗提纯工艺或级数,将能有效的降本增效,减少生产过程中的质量过剩.本文设计了电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)在测定粗四氯化锗杂质元素含量上的应用;研究了仪器工作条件和测定元素的选定、样品溶液的制备、分析谱线的选择、干扰及消除、检出量和回收率的测定以及精密度测量等.结果表明,在选定条件下,精密度在1.76％～6.73％,回收率为98.6％～100.5％,应用该方法进行粗四氯化锗中杂质元素的检测,具有准确性高,操作简洁,检测用时短的显著优点.
关键词：电感耦合等离子体发射光谱仪粗四氯化锗信噪比MSF回收率精密度
分类号：O657.31(分析化学)
论文发表日期：2021-06-20
在线出版日期：2026-05-22（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 49-51,56 )
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