波长色散X射线荧光光谱法测定锰硅、锰铁合金中主次量元素
丁玉献
张庆峰
山钢股份莱芜分公司,山东 济南271104
摘要：将试样与氧化剂充分混匀,放置在熔剂铺底的铂金坩埚中,再以少许熔剂覆盖,滴加少量溴化锂作脱模剂,放置于熔融仪中在高温下熔融,铸成玻璃熔片.样品表层经X-射线照射,产生特征X-射线荧光强度,根据特征X射线强度和标准值回归工作曲线,计算出样品中锰、硅和磷的质量分数.经大量试验证明,此方法操作简便,分析周期短,分析结果准确可靠,尤其适宜作为大批量合金检验的方法.
关键词：波长色散X射线荧光光谱法玻璃熔片锰硅锰铁
分类号：O657.34(分析化学)
论文发表日期：2021-08-20
在线出版日期：2026-05-22（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：2( 40-41 )
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