郑传俊—— 填补低成本测试技术空白
张怡
摘要：目前,发展低成本的集成电路测试技术、选择较为经济的测试系统,已经成为了行业内的共识.上海宏测半导体科技有限公司研发总监郑传俊在多任务并发测试技术和数模混合测试技术领域取得了重大技术突破,研发出一系列用于低成本领域的集成电路测试设备,不仅缩短了测试时间,还提高了测试效果,为消费型集成电路生产及封装企业带来了福音,推动了消费型电子产品市场的发展.
机标关键词：
论文发表日期：2018-01-01
在线出版日期：2026-05-22（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：2( 8-9 )