事件相关电位P300与抑郁症严重程度的关系
张振清
张晓阳
吴娓娓
1.361012,厦门市仙岳医院心理科2.361012,厦门市仙岳医院心理科3.361012,厦门市仙岳医院心理科
摘要：目的 探讨事件相关电位P300与抑郁症严重程度之间的关系.方法 对28例中度抑郁症患者、41例重度抑郁患者与70例健康对照的P300行对照研究.结果 抑郁症患者P3潜伏期与HAMD评分呈正相关(r=0.514,P<0.01);中、重度抑郁组较健康对照组 N2、P3潜伏期延长,P3波幅降低,差异均有统计学意义(P<0.05);重度抑郁组较中度抑郁组P3潜伏期延长,差异有统计学意义(P=0.017).结论 抑郁症的认知功能损害与严重程度有关,P3潜伏期可能是抑郁症严重程度的预测性指标.
关键词：抑郁症认知事件相关电位严重程度
资助基金：厦门市科学技术局科技计划项目(3502Z20154062)福建省卫生计生委青年科研课题(2015-2-53)
论文发表日期：2017-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：3( 876-878 )
英文信息