联合1H-MRS及T2信号对精神分裂症前额叶皮质的研究
张渊
宋慧慧
顾卫国
孙洪言
袁念
1.215137,苏州大学附属广济医院 苏州市广济医院影像科2.215137,苏州大学附属广济医院 苏州市广济医院影像科3.215137,苏州大学附属广济医院 苏州市广济医院影像科4.215137,苏州大学附属广济医院 苏州市广济医院影像科5.215137,苏州大学附属广济医院 苏州市广济医院影像科
摘要：目的 联合磁共振质子波谱(1H-MRS)及T2信号强度两种手段对首发精神分裂症患者前额叶皮质进行研究,探讨其变化规律及潜在联系.方法 收集34例首发未用药精神分裂症患者和健康对照35人.所有受试者分别行前额叶皮层的1H-MRS及快速自旋回波T2序列,分析精神分裂症患者前额叶皮质的代谢指标及T2信号强度的变化规律.并分析相关阳性指标与PANSS评分之间的相关性.结果 精神分裂症患者双侧额叶NAA/Cr比值较对照组明显降低,差异有统计学意义(P<0.05);两组间双侧额叶Cho/Cr比值差异无统计学意义(P>0.05).精神分裂症患者双侧额叶上部磁共振T2信号强度较对照组明显增高,差异有统计学意义(t=2.07、2.18,P<0.05);精神分裂症患者左、右侧额叶中部及额叶下部磁共振T2信号强度与对照组相比差异均无统计学意义(P>0.05).精神分裂症患者左侧额叶上部磁共振T2信号与PANSS阴性症状分数、PANSS总分呈正相关(r=0.57、0.49,P<0.05).结论1H-MRS及T2信号强度联合分析,可为精神分裂症临床早期诊断提供新的思路,借此思路或可解释首发精神分裂症患者前额叶皮质的神经元代谢异常及病理改变两者之间的潜在联系.
关键词：精神分裂症前额叶皮质磁共振T2信号质子波谱
资助基金：苏州市科技局指令性项目(SYS201577)苏州大学附属广济医院资助项目(gjyy201501)Commanding Project of Suzhou Municipal Science and Technology Bureau(SYS201577)Subsidized Project of Guangji Hospital Affiliated to Soochow University(gjyy201501)
论文发表日期：2018-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 240-243 )
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